Loresta三菱化学阻抗率计四探针探头 探头选项 | 类型 | 适用被测试样品 | 型号 | ESP | 对于异类样本 | MCP - TP08P | PSP | 小样本的薄膜 | MCP - TP06P | QPP | 对于小样本 | MCP - TPQPP | TFP | 有关硅晶片或玻璃基板薄膜 | MCP - TFP | |
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| ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》 不均一樣品用 Pin間 5mm,Pin尖 Ø 2×4支,壓力 240g/支, 尺寸 35W×20L×35Hmm |
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| PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
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| QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》 微小樣品用 Pin間 1.5mm,Pin尖 0.26R×4支,壓力 70g/支, 尺寸 Ø 10-20× L112mm |
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| NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.04R×4支,壓力 250g/支 |
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| BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭 特殊用探頭》 大樣品用 Pin間 2.2mm,Pin尖 0.37R×4支,壓力 210g/支 |
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| TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm,Pin尖 0.15R×4支,壓力 50g/支 |
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| AP探頭 MCP-T《二探針探頭》 標準樣式 Pin間 10mm,Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支 |
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| BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》 大樣品用 Pin尖 Ø 2×2支,壓力 240g/支 |
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| MCP-TRPS 探頭檢驗片 PSP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之) |
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| MCP-TRTF 探頭檢驗片 TFP NSCP探頭用 (探頭檢驗片於測定前檢查之) |